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SRM640g 硅粉標準品技術參數

發布時間: 2026-01-15  點擊次數: 46次
SRM640g是美國國家標準與技術研究院(NIST)研制的超高純硅粉標準參考物質,屬640系列最l新批次,核心用途為X射線粉末衍射儀(XRD)校準,專為衍射線位置(2θ角)和線形(峰寬)的標準化提供量值基準,SRM640g 硅粉標準品廣泛應用于材料科學、半導體、化工等領域的晶體結構分析與儀器性能驗證。


SRM640g 硅粉標準品單單位為7.5克,采用氬氣封裝裝瓶防潮,原料源自德國Siltronic AG超高純本征硅晶錠,經粉碎、噴射研磨至中值粒徑4.1μm,再于1000℃氬氣環境下退火2小時以消除晶格應力。核心認證值為22.5℃下晶格參數0.5431144nm±0.000008nm,量值溯源至國際單位制(SI),經XRD分析驗證均勻性,相對晶格變化≤±4.8×10??(95%置信區間)。


使用與儲存需遵循規范:適配Bragg-Brentano幾何衍射儀,可通過基本參數法和Pawley精修校準2θ角及衍射峰半高寬(FWHM);未使用部分需密封于原瓶,保持氬氣防護防潮,避免污染、損壞。其認證值在規定不確定度內無限期有效,無需定期重新認證,違規儲存或使用會導致認證失效。


SRM640g 硅粉標準品無顯著安全風險,核心防護重點為防止吸潮與污染。作為XRD校準領域的關鍵基準物質,它為檢測結果的準確性與可比性提供保障,是科研及工業質量控制體系的重要支撐。


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